Lehrbuch
Testverfahren in der Mikroelektronik : Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783540617280
3540617280
- Dimensions
-
25 cm
- Extent
-
XI, 219 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Literaturverz. S. 209 - 219
- Keyword
-
Digitale integrierte Schaltung
Testbarkeit
Fehlererkennung
Digitale integrierte Schaltung
Selbsttest
Fehlererkennung
Logische Schaltung
Testmuster
Algorithmus
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Budapest, Hong Kong, London, Mailand, Paris, Santa Clara, Singapur, Tokio
- (who)
-
Springer
- (when)
-
1997
- Creator
-
Daehn, Wilfried
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:49 PM CEST
Data provider
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Object type
- Lehrbuch
Associated
- Daehn, Wilfried
- Springer
Time of origin
- 1997
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