Rauschuntersuchungen an Silizium-Lawinen-Photodioden bei 850 nm

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
25 S.
Language
Deutsch
Notes
11 graph. Darst.

Bibliographic citation
Technischer Bericht / Fernmeldetechnisches Zentralamt ; 14 TBr 11 : Forschungsgruppe: FI 42

Event
Veröffentlichung
(where)
Darmstadt
(who)
FTZ
(when)
1983
Creator
Kiesel, Kurt

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Last update
11.06.2025, 2:07 PM CEST

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  • Kiesel, Kurt
  • FTZ

Time of origin

  • 1983

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