Fast fitting of reflectivity data of growing thin films using neural networks

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of Applied Crystallography, 52, S. 1342-1347

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2019
Creator
Greco, A.
Starostin, V.
Karapanagiotis, C.
Hinderhofer, A.
Gerlach, A.
Pithan, L.
Liehr, Sascha
Schreiber, Frank
Kowarik, Stefan

DOI
10.1107/S1600576719013311
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-498997
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:45 AM CEST

Data provider

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  • Greco, A.
  • Starostin, V.
  • Karapanagiotis, C.
  • Hinderhofer, A.
  • Gerlach, A.
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  • Liehr, Sascha
  • Schreiber, Frank
  • Kowarik, Stefan
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2019

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