Charged particle traps, 2.. Applications

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540922605
Umfang
X, 275 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.

Erschienen in
Charged particle traps
Springer series on atomic, optical, and plasma physics ; 54

Klassifikation
Physik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York
(wer)
Springer
(wann)
2009

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:51 MESZ

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Beteiligte

  • Springer

Entstanden

  • 2009

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