Charged particle traps, 2.. Applications

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540922605
Extent
X, 275 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.

Bibliographic citation
Charged particle traps
Springer series on atomic, optical, and plasma physics ; 54

Classification
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg, New York
(who)
Springer
(when)
2009

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Last update
11.03.2025, 11:45 AM CET

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  • Springer

Time of origin

  • 2009

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