Hochschulschrift

Kalorimetrie an amorphen Ge- und Si:H-Schichten bei tiefen Temperaturen und in hohen Magnetfeldern

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
59 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1986

Schlagwort
Silizium
Amorphe Halbleiter
Dünne Schicht
Spezifische Wärmekapazität
Germanium
Silicium
Dünne Schicht
Spezifische Wärmekapazität
Germanium

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:24 MESZ

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