Hochschulschrift
Untersuchungen zur Genauigkeitssteigerung der kalibrationsfreien Temperaturmessung mit Halbleiter-pn-Übergängen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183587087
3183587084
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
XII, 138 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1996
- Erschienen in
-
Fortschritt-Berichte VDI / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 587, Reihe 08
- Schlagwort
-
Temperaturmessung
Halbleiterbauelement
pn-Übergang
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1996
- Urheber
-
Holmer, Rainer
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:22 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Holmer, Rainer
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1996
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